Xeva-1.7-320

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Xeva-1.7-320

Investigación avanzada en imágenes SWIR

Cámara Xeva-1.7-320 para tareas de investigación con imágenes de excelente calidad

En una carcasa compacta, la cámara digital Xeva-1.7-320 combina un detector InGaAs con refrigeración térmica y los componentes electrónicos para control y comunicaciones.

La unidad Xeva-1.7-640 está disponible con sistemas de detectores estándar (hasta 1.7 μm), y viene en versiones de varias velocidades: 60Hz, 100Hz y 350Hz. Le permite elegir la configuración más apropiada de detector/cámara para su aplicación específica.

La cámara se conecta con la computadora a través de una conexión USB 2.0 o CameraLink.

Cada cámara infrarroja se entrega con una interfaz de usuario gráfica Xeneth, la cual ofrece acceso directo a varios ajustes de la cámara, tales como tiempo de exposición y temperatura de funcionamiento. El software incluye herramientas de corrección de uniformidad de dos puntos y reemplazo de píxeles defectuosos.

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Feature

  • Compatible con espectrómetro
    Estas cámaras tienen orificios de montaje para espectrógrafos, lo que las hace apropiadas para aplicaciones de imágenes (hiper)espectrales.
  • Imágenes térmicas de objetos calientes
    Las cámaras SWIR son ideales para capturar imágenes térmicas de metales calientes (> 300º C)
  • Alta sensibilidad para condiciones de poca luz
    Detectores con bajo nivel de ruido y de corriente oscura para tiempos de integración prolongados
  • Imágenes SWIR aplicadas al campo visible
    Sensores VISNIR o mejorados de tipo InGaAs para el campo visible para una respuesta extendida de 500 a 1700 nm
  • Operación con refrigeración para imágenes con bajos niveles de luz
    Un detector SWIR refrigerado tiene un menor nivel de corrientes oscuras y permite mayores tiempos de integración
  • Programación flexible con una arquitectura abierta
    SDK (kit de software de desarrollo) disponible para todas las cámaras; muestras disponibles para C++, LabView, Linux…
  • CameraLink y disparador para imágenes de alta velocidad.
    La interfaz CameraLink es apropiada para tasas de datos elevadas; pueden usarse características de disparo para sincronización a velocidades de cuadro elevadas.

Diseñado para su uso en

  • Termografía de alta temperatura (el rango de 300 °C a 1200 °C, o hasta 2000 °C)
    Las cámaras SWIR pueden utilizarse para imágenes térmicas en rangos de temperatura por encima de los 300 °C
  • Imágenes hiperespectrales
    Combinación de imágenes espectrales y 2D. Nuestras cámaras SWIR se utilizan para capturar imágenes SWIR hiperespectrales
  • I+D (rango SWIR)
    El rango SWIR es un rango relativamente inexplorado, por lo que brinda muchas oportunidades de investigación
  • Inspección de semiconductores
    Las cámaras SWIR son capaces de ver a través del silicio

Características

Compatible con una variedad de digitalizadores de vídeo

Several compatible frame grabbers for CameraLink interface are available

Varias opciones de lentes y filtros

Various options for lenses and filters are available

Software de cámara infrarroja incluido

Xeneth camera control and imaging software is included

Disparador

External trigger for signal synchronization

Modo de ventanas

Imaging in a reduced window of interest for increased frame rates

Corrección de imágenes TrueNUC

Non uniformity correction for a wide range of integration times 

Alta velocidad

High frame rate imaging at more than 340fps in full frame

Compatible con espectrógrafo

Mounting holes available for spectrograph mounting

Amplio rango dinámico

High dynamic range mode available

Especificaciones de la cámara

Array Specifications

Array Specifications Xeva-1.7-320
Detector type InGaAs
Spectral range 0.9 μm to 1.7 μm (VisNIR optional 0.4 to 1.7 μm)
Image format 320 (w) x 256 (h) pixels
Pixel pitch 30 μm
Array cooling TE1-cooled (Optional: TE3)
Pixel operability > 99 %

Camera Specifications

Camera Specifications 60 Hz 100 Hz 350 Hz
Lens
Focal length Broad selection of lenses available
Optical interface C-mount - Spectrograph fixation holes
Imaging performance
Maximum frame rate (full frame) 60 Hz 100 Hz 350 Hz
Integration type Snapshot
Integration time range 1 μs - 100 s
Noise level: Low gain 6 AD counts on 14 bit
Noise level: High gain 15 AD counts on 14 bit
S/N ratio: Low gain 68 dB
S/N ratio: High gain 60 dB
Analog-to-Digital (ADC) 12 bits or 14 bits
Interfaces
Command and control USB 2.0
Image acquisition USB 2.0 or CameraLink
Trigger TTL levels
Graphical User Interface (GUI) Xeneth Advanced
Power requirements
Power consumption < 4 W without TEC operation; 25 W at maximum cooling
Power supply DC 12 V
Physical characteristics
Camera cooling Forced convection cooling
Ambient operating temperature range 0°C to 50°C
Dimensions (width x height x length) - excluding lens (approximately) 90 x 110 x 110 mm
Weight (excluding lens) +/- 1.8 kg

Amplia gama de accesorios disponibles

Las opciones de lentes y filtros

Software

  • Xeneth
  • Xeneth SDK (optional)
  • Xeneth Labview SDK (optional)

Documentos

Notas de prensa
Release of the Xeva-1.7-320 SWIR InGaAs camera Xeva-1.7-320 InGaAs SWIR camera combines high speed with full flexibility (2004)
Xenics introduces new Xeva-1.7-320 IR focal plane camera Xenics introduces new Xeva-1.7-320 IR Focal Plane Camera with USB 2.0 interface (2003)
Xenics introduces new Xeva-1.7-320 InGaAs focal plane camera Introducing our Xeva-1.7-320 SWIR InGaAs camera with USB 2.0 interface (2003)
Indicaciones de uso
Hyperspectral Imaging vereinfacht die Nahrungsmittelkontrolle (DE) Die Äpfel sollen schön rot glänzen, das Fleisch möglichst zartrosa marmoriert sein. Vor allem erwartet der Verbraucher aber frische und unbelastete Lebensmittel. Moderne Verfahren wie die hyperspektrale Bildanalyse können hier die klassischen Laboruntersuchungen ergänzen oder zum Teil sogar ersetzen.
Why Beam Profiling at 1550nm Requires InGaAs Cameras This article (originally from Ophir-Spiricon) describes an beam analysis application in which the use of a phosphor coated CCD camera was unable to effectively profile a 1550nm laser source with challenging optical arrangements.
Technical documents
Technical document Xeva-1.7-320 This file contains all the technical documents for the Xeva-1.7-320 camera.
Libros blancos
Carbon nanotubes applications We review of the use and advantages of (single-walled) carbon nanotubes in a variety of applications in this paper.

Folletos

Scientific brochure Xeva-1.7-320

Extreme compact size and low weight

Given the extremely compact size and low weight of the Xenics XS-1.7-320 SWIR camera it was extremely easy to integrate it into our existing optical setup.

University of Strathclyde