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Arraste o mouse sobre a imagem para girar a câmera

Xeva-1.7-320

Pesquisas avançadas em imageamento SWIR

Xeva-1.7-320 refrigerada e estável para pesquisas com excelente qualidade de imagem

Em um invólucro compacto, a câmera digital Xeva-1.7-320 combina um cabeçote de detector InGaAs refrigerado termoeletricamente e componentes eletrônicos de controle e comunicações.

A unidade Xeva-1.7-320 está disponível com matrizes de detectores InGaAs padrão (até 1,7 μm) e apresenta diversas versões de velocidade: 60 Hz, 100 Hz e 350 Hz. Assim você pode escolher a configuração câmera-detector mais adequada para sua aplicação específica.

O cabeçote da câmera se comunica com um computador por USB 2.0 ou CameraLink padrão.

Cada câmera é entregue com a interface gráfica do usuário Xeneth, que oferece acesso direto a diversos ajustes da câmera, como tempo de exposição e temperatura operacional. Entre as ferramentas de software estão a correção de não uniformidades pelo método de calibração de dois pontos e a substituição de pixel defeituoso.

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Benefícios e recursos

  • CameraLink e disparo para imageamento de alta velocidade
    A interface CameraLink é ideal para altas taxas de dados — o disparo pode ser usado para sincronização a altas taxas de quadros
  • Operação refrigerada para imageamento em baixa luminosidade
    Detectores SWIR refrigerados têm corrente escura mais baixa e possibilitam tempos de integração mais longos
  • Extensão do imageamento SWIR para o campo visível
    Sensores InGaAs VisNIR ou visível aprimorados para resposta estendida de 500 a 1.700 nm
  • Programação flexível em arquitetura aberta
    SDK (Kit de Desenvolvimento de Software) disponível para todas as câmeras — amostras disponíveis para C++, LabView, Linux…
  • Alta sensibilidade para condições de baixa luminosidade
    Detectores de baixo ruído e baixa corrente escura para tempos de integração prolongados
  • Compatível com espectrômetro
    Essas câmeras dispõem de furos de montagem para espectrógrafos, o que as torna ideais para aplicações de imageamento (hiper)espectral
  • Imageamento térmico de objetos quentes
    As câmeras SWIR são ideais para o imageamento térmico de metais quentes (> 300 ºC)

Projetado para uso em

  • Termografia de temperaturas elevadas (na faixa de 300 °C a 1.200 °C ou até 2.000 °C)
    As câmeras SWIR podem ser usadas para imageamento térmico na faixa de temperatura acima de 300 °C
  • Imageamento hiperespectral
    Combinação de imageamento espectral e imageamento 2D. Nossas câmeras SWIR são usadas para imageamento SWIR hiperespectral
  • P&D (faixa SWIR)
    A faixa SWIR é relativamente inexplorada e, portanto, oferece muitas oportunidades de pesquisa.
  • Inspeção de semicondutores
    Câmeras SWIR são capazes de ver através de silício

Características

Compatível com diversas placas de captura de vídeo

Several compatible frame grabbers for CameraLink interface are available

Diversas opções de lentes e filtros

Various options for lenses and filters are available

Software para câmera IR incluído

Xeneth camera control and imaging software is included

Disparo

External trigger for signal synchronization

Modo de janelamento

Imaging in a reduced window of interest for increased frame rates

Correção de imagem TrueNUC

Non uniformity correction for a wide range of integration times 

Alta velocidade

High frame rate imaging at more than 340fps in full frame

Compatível com espectrógrafo

Mounting holes available for spectrograph mounting

Alta faixa dinâmica

High dynamic range mode available

Especificações da câmera

Array Specifications

Array Specifications Xeva-1.7-320
Detector type InGaAs
Spectral range 0.9 μm to 1.7 μm (VisNIR optional 0.4 to 1.7 μm)
Image format 320 (w) x 256 (h) pixels
Pixel pitch 30 μm
Array cooling TE1-cooled (Optional: TE3)
Pixel operability > 99 %

Camera Specifications

Camera Specifications 60 Hz 100 Hz 350 Hz
Lens LWIR 18 mm F/1
Focal length Broad selection of lenses available
Optical interface C-mount - Spectrograph fixation holes
Imaging performance
Maximum frame rate (full frame) 60 Hz 100 Hz 350 Hz
Integration type Snapshot
Integration time range 1 μs - 100 s
Noise level: Low gain 6 AD counts on 14 bit
Noise level: High gain 15 AD counts on 14 bit
S/N ratio: Low gain 68 dB
S/N ratio: High gain 60 dB
Analog-to-Digital (ADC) 12 bits or 14 bits
Interfaces
Command and control USB 2.0
Image acquisition USB 2.0 or CameraLink
Trigger TTL levels
Graphical User Interface (GUI) Xeneth Advanced
Power requirements
Power consumption < 4 W without TEC operation; 25 W at maximum cooling
Power supply DC 12 V
Physical characteristics
Camera cooling Forced convection cooling
Ambient operating temperature range 0°C to 50°C
Dimensions (width x height x length) - excluding lens (approximately) 90 x 110 x 110 mm
Weight (excluding lens) +/- 1.8 kg

Ampla gama de acessórios disponíveis

Opções de lentes e filtros

Software

  • Xeneth
  • Xeneth SDK (optional)
  • Xeneth Labview SDK (optional)

Documentos

Comunicados de imprensa
Release of the Xeva-1.7-320 SWIR InGaAs camera Xeva-1.7-320 InGaAs SWIR camera combines high speed with full flexibility (2004)
Xenics introduces new Xeva-1.7-320 InGaAs focal plane camera Introducing our Xeva-1.7-320 SWIR InGaAs camera with USB 2.0 interface (2003)
Xenics introduces new Xeva-1.7-320 IR focal plane camera Xenics introduces new Xeva-1.7-320 IR Focal Plane Camera with USB 2.0 interface (2003)
Notas de aplicação
Hyperspectral Imaging vereinfacht die Nahrungsmittelkontrolle (DE) Die Äpfel sollen schön rot glänzen, das Fleisch möglichst zartrosa marmoriert sein. Vor allem erwartet der Verbraucher aber frische und unbelastete Lebensmittel. Moderne Verfahren wie die hyperspektrale Bildanalyse können hier die klassischen Laboruntersuchungen ergänzen oder zum Teil sogar ersetzen.
Why Beam Profiling at 1550nm Requires InGaAs Cameras This article (originally from Ophir-Spiricon) describes an beam analysis application in which the use of a phosphor coated CCD camera was unable to effectively profile a 1550nm laser source with challenging optical arrangements.
Technical documents
Technical document Xeva-1.7-320 This file contains all the technical documents for the Xeva-1.7-320 camera.

Folhetos

Scientific brochure Xeva-1.7-320

World's first InGaAs camera photon emission microscope

Xenics enabled Semicaps to realize the world's first InGaAs camera photon emission microscope in 2004. Since then Xenics and sInfraRed have supported us in our endeavors for better sensitivity and resolution in photon and thermal emission microscopy.

Chua Choon Meng, CEO Semicaps