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Arraste o mouse sobre a imagem para girar a câmera

Xeva-1.7-320 VisNIR

Pesquisas avançadas em imageamento SWIR

Refrigerada e estável para pesquisas com excelente qualidade de imagem VisNIR

Em um invólucro compacto, a câmera digital Xeva-1.7-320 VisNIR combina um cabeçote de detector InGaAs refrigerado termoeletricamente e componentes eletrônicos de controle e comunicações.

A unidade Xeva-1.7-320 VisNIR está disponível com matrizes de detectores InGaAs padrão (até 1,7 μm) e apresenta diversas versões de velocidade: 60 Hz, 100 Hz e 350 Hz. Assim você pode escolher a configuração câmera-detector mais adequada para sua aplicação específica. O cabeçote da câmera se comunica com um computador por USB 2.0 ou CameraLink padrão.

Cada câmera é entregue com a interface gráfica do usuário Xeneth, que oferece acesso direto a diversos ajustes da câmera, como tempo de exposição e temperatura operacional. Entre as ferramentas de software estão a correção de não uniformidades pelo método de calibração de dois pontos e substituição de pixel defeituoso.

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Benefícios e recursos

  • CameraLink e disparo para imageamento de alta velocidade
    A interface CameraLink é ideal para altas taxas de dados — o disparo pode ser usado para sincronização a altas taxas de quadros
  • Operação refrigerada para imageamento em baixa luminosidade
    Detectores SWIR refrigerados têm corrente escura mais baixa e possibilitam tempos de integração mais longos
  • Imageamento térmico de objetos quentes
    As câmeras SWIR são ideais para o imageamento térmico de metais quentes (> 300 ºC)
  • Cobertura estendida da faixa SWIR à visível
    Sensores InGaAs VisNIR ou visível aprimorados para resposta estendida de 500 a 1.700 nm
  • Extensão do imageamento SWIR para o campo visível
    Sensores InGaAs VisNIR ou visível aprimorados para resposta estendida de 500 a 1.700 nm
  • Programação flexível em arquitetura aberta
    SDK (Kit de Desenvolvimento de Software) disponível para todas as câmeras — amostras disponíveis para C++, LabView, Linux…
  • Alta sensibilidade para condições de baixa luminosidade
    Detectores de baixo ruído e baixa corrente escura para tempos de integração prolongados
  • Compatível com espectrômetro
    Essas câmeras dispõem de furos de montagem para espectrógrafos, o que as torna ideais para aplicações de imageamento (hiper)espectral

Projetado para uso em

  • Inspeção de obras de arte
    Fótons SWIR podem penetrar através da pintura para que underdrawings possam ser investigados
  • Inspeção de alimentos
    Danos em alimentos podem ser detectados devido ao alto teor de umidade que aparecerá mais escuro nas imagens SWIR
  • Imageamento hiperespectral
    Combinação de imageamento espectral e imageamento 2D. Nossas câmeras SWIR são usadas para imageamento SWIR hiperespectral
  • Perfil do feixe de laser
    Análise do feixe de laser para lasers infravermelhos, por exemplo, a 1.064, 1.300 e 1.550 nm
  • P&D (faixa SWIR)
    A faixa SWIR é relativamente inexplorada e, portanto, oferece muitas oportunidades de pesquisa
  • Inspeção de semicondutores
    Câmeras SWIR são capazes de ver através de silício
  • Inspeção de células solares EL/PL
    Técnicas de inspeção para análise de fissuras ou mapeamento de eficiência com base em eletroluminescência ou fotoluminescência

Características

Compatível com diversas placas de captura de vídeo

Several compatible frame grabbers for CameraLink interface are available

Diversas opções de lentes e filtros

Various options for lenses and filters are available with C-mount interface

Software para câmera IR incluído

Xeneth camera control and imaging software is included

Disparo

External trigger for signal synchronization

Modo de janelamento

Imaging in a reduced window of interest for increased frame rates

Imagem de 14 bits

Digitization: The camera uses a 14 bit ADC

Alta velocidade

High frame rate imaging at more than 340fps in full frame

Compatível com espectrógrafo

Mounting holes available for spectrograph mounting

Opção VisNIR

Visible enhanced InGaAs available (500 - 1700 nm)

Alta faixa dinâmica

High dynamic range mode available

Especificações da câmera

Array Specifications

Array Specifications Xeva-1.7-320 VisNIR
Detector type InGaAs
Spectral range 0.9 μm to 1.7 μm (VisNIR optional 0.4 to 1.7 μm)
Image format 320 (w) x 256 (h) pixels
Pixel pitch 30 μm
Array cooling TE1-cooled
Pixel operability > 99 %

Camera Specifications

Camera Specifications 60 Hz 100 Hz 350 Hz
Lens LWIR 18 mm F/1
Focal length Broad selection of lenses available
Optical interface C-mount - Spectrograph fixation holes
Imaging performance
Maximum frame rate (full frame) 60 Hz 100 Hz 350 Hz
Integration type Snapshot
Integration time range 1 μs - 100 s
Noise level: Low gain 6 AD counts on 14 bit
Noise level: High gain 15 AD counts on 14 bit
S/N ratio: Low gain 68 dB
S/N ratio: High gain 60 dB
Analog-to-Digital (ADC) 12 bits or 14 bits
Interfaces
Command and control USB 2.0
Image acquisition USB 2.0 or CameraLink
Trigger TTL levels
Graphical User Interface (GUI) Xeneth Advanced
Power requirements
Power consumption < 4 W without TEC operation; 25 W at maximum cooling
Power supply DC 12 V
Physical characteristics
Camera cooling Forced convection cooling
Ambient operating temperature range 0°C to 50°C
Dimensions (width x height x length) - excluding lens (approximately) 90 x 110 x 110 mm
Weight (excluding lens) +/- 1.8 kg

Ampla gama de acessórios disponíveis

Opções de lentes e filtros

Software

  • Xeneth
  • Xeneth SDK
  • Xeneth Labview SDK (optional)

Documentos

Notas de aplicação
Xeva-1.7-320 VisNIR for hyperspectral imaging, nightvision, wavefront sensing and laser detection The Xeva-1.7-320 VisNIR camera feels at home in a wide variety of applications. This application note goes deeper into detail on hyperspectral imaging, nightvision, wavefront sensing for optics and laser detection.
Technical documents
Technical document Xeva-1.7-320 vSWIR This file contains all the technical documents for the Xeva-1.7-320 vSWIR camera.

Folhetos

Scientific brochure Xeva-1.7-320 VisNIR

World's first InGaAs camera photon emission microscope

Xenics enabled Semicaps to realize the world's first InGaAs camera photon emission microscope in 2004. Since then Xenics and sInfraRed have supported us in our endeavors for better sensitivity and resolution in photon and thermal emission microscopy.

Chua Choon Meng, CEO Semicaps