Продукты

Переместите курсор на изображение для вращения камеры.

Xeva-1.7-320

Передовые исследования в КВИК-визуализации

Xeva-1.7-320 с охлаждением и стабилизацией для исследований, где важно отличное качество изображения

В одном компактном корпусе цифровая камера Xeva-1.7-320 сочетает термо-электрически охлаждаемую головку детектора InGaAs и электронику для управления и обмена данными.

Изделие Xeva-1.7-320 доступно со стандартной (до 1.7 мкм) матрицей детектора InGaAs и поставляется в различных скоростных вариантах: 60 Гц, 100 Гц и 350 Гц. Это позволяет выбрать наиболее подходящую конфигурацию детектора-камеры для конкретного приложения.

Интерфейсы головки камеры с ПК реализованы через стандартный USB 2.0 или CameraLink.

Каждая камера поставляется с графическим пользовательским интерфейсом Xeneth, который дает прямой доступ к различным параметрам камеры, например, времени экспозиции и рабочей температуре. Программные средства включают в себя двухточечную коррекцию неоднородностей и замену плохих пикселей.

Are you looking for more information?

Contact us for advice, detailed information and quotations.

Get in touch

 

Преимущества и особенности

  • CameraLink и функция триггера для высокоскоростной визуализации
    Интерфейс CameraLink подходит для интенсивных потоков данных – для синхронизации с высокой частотой кадров может использоваться функция триггера
  • Использование охлаждения для визуализации при слабой освещенности
    Охлаждаемый КВИК-детектор имеет низкий темновой ток и позволяет более долгую интеграцию
  • Расширение КВИК-визуализации в видимый спектр
    InGaAs датчики Виз-БИК, или с расширением в видимый спектр, для расширенного наблюдения от 500 до 1700 нм
  • Гибкое программирование в открытой архитектуре
    Для всех камер имеется SDK (пакет разработки программного обеспечения) – прилагаются образцы кодов C++, LabView, Linux и проч.
  • Высокая чувствительность в условиях слабой освещенности
    Детекторы с низким уровнем шума и низким темновым током для обеспечения более долгого времени интеграции
  • Совместимость со спектрометром
    Эти камеры имеют монтажные отверстия для спектрографов, что делает их удобными для приложений (гипер-) спектральной визуализации
  • Тепловая визуализация горячих объектов
    КВИК-камеры идеально подходят для тепловой визуализации горячих металлов (> 300°C)

Предназначен для использования в

  • Высокотемпературная термография (в диапазоне от 300°C до 1200° C или вплоть до 2000°C)
    КВИК-камеры могут использоваться для тепловой визуализации в диапазоне температур выше 300°C
  • Гиперспектральная визуализация
    Сочетание спектральной визуализации и 2D-визуализации. Наши КВИК-камеры используются для гиперспектральной КВИК-визуализации
  • НИОКР в КВИК-диапазоне
    КВИК-диапазон является сравнительно малоизученными и следовательно предлагает много возможностей для исследований.
  • Проверка полупроводников
    КВИК-камеры способны видеть сквозь кремний

Oсобенности

Совместимость с различными системами видеозахвата

Several compatible frame grabbers for CameraLink interface are available

Различные варианты поставки объективов и фильтров

Various options for lenses and filters are available

В комплект поставки входит программное обеспечение для ИК камеры

Xeneth camera control and imaging software is included

Триггер

External trigger for signal synchronization

Режим выделения окон

Imaging in a reduced window of interest for increased frame rates

Коррекция изображения TrueNUC

Non uniformity correction for a wide range of integration times 

Высокая скорость

High frame rate imaging at more than 340fps in full frame

Совместимость со спектрографом

Mounting holes available for spectrograph mounting

Высокий динамический диапазон

High dynamic range mode available

технические характеристики камеры

Array Specifications

Array Specifications Xeva-1.7-320
Detector type InGaAs
Spectral range 0.9 μm to 1.7 μm (VisNIR optional 0.4 to 1.7 μm)
Image format 320 (w) x 256 (h) pixels
Pixel pitch 30 μm
Array cooling TE1-cooled (Optional: TE3)
Pixel operability > 99 %

Camera Specifications

Camera Specifications 60 Hz 100 Hz 350 Hz
Lens LWIR 18 mm F/1
Focal length Broad selection of lenses available
Optical interface C-mount - Spectrograph fixation holes
Imaging performance
Maximum frame rate (full frame) 60 Hz 100 Hz 350 Hz
Integration type Snapshot
Integration time range 1 μs - 100 s
Noise level: Low gain 6 AD counts on 14 bit
Noise level: High gain 15 AD counts on 14 bit
S/N ratio: Low gain 68 dB
S/N ratio: High gain 60 dB
Analog-to-Digital (ADC) 12 bits or 14 bits
Interfaces
Command and control USB 2.0
Image acquisition USB 2.0 or CameraLink
Trigger TTL levels
Graphical User Interface (GUI) Xeneth Advanced
Power requirements
Power consumption < 4 W without TEC operation; 25 W at maximum cooling
Power supply DC 12 V
Physical characteristics
Camera cooling Forced convection cooling
Ambient operating temperature range 0°C to 50°C
Dimensions (width x height x length) - excluding lens (approximately) 90 x 110 x 110 mm
Weight (excluding lens) +/- 1.8 kg

Широкий ассортимент аксессуаров

Варианты объективов и фильтров

Software

  • Xeneth
  • Xeneth SDK (optional)
  • Xeneth Labview SDK (optional)

Документы

Пресс-релизы
Release of the Xeva-1.7-320 SWIR InGaAs camera Xeva-1.7-320 InGaAs SWIR camera combines high speed with full flexibility (2004)
Xenics introduces new Xeva-1.7-320 IR focal plane camera Xenics introduces new Xeva-1.7-320 IR Focal Plane Camera with USB 2.0 interface (2003)
Xenics introduces new Xeva-1.7-320 InGaAs focal plane camera Introducing our Xeva-1.7-320 SWIR InGaAs camera with USB 2.0 interface (2003)
Указания по применению
Hyperspectral Imaging vereinfacht die Nahrungsmittelkontrolle (DE) Die Äpfel sollen schön rot glänzen, das Fleisch möglichst zartrosa marmoriert sein. Vor allem erwartet der Verbraucher aber frische und unbelastete Lebensmittel. Moderne Verfahren wie die hyperspektrale Bildanalyse können hier die klassischen Laboruntersuchungen ergänzen oder zum Teil sogar ersetzen.
Why Beam Profiling at 1550nm Requires InGaAs Cameras This article (originally from Ophir-Spiricon) describes an beam analysis application in which the use of a phosphor coated CCD camera was unable to effectively profile a 1550nm laser source with challenging optical arrangements.
Technical documents
Technical document Xeva-1.7-320 This file contains all the technical documents for the Xeva-1.7-320 camera.

Брошюры

Scientific brochure Xeva-1.7-320

World's first InGaAs camera photon emission microscope

Xenics enabled Semicaps to realize the world's first InGaAs camera photon emission microscope in 2004. Since then Xenics and sInfraRed have supported us in our endeavors for better sensitivity and resolution in photon and thermal emission microscopy.

Chua Choon Meng, CEO Semicaps